TFT-LCD面板高温Cell Gap预警重力Mura

　　是TFT-LCD行业顽固不良，其形成原因为Cell Gap均匀性差导致透光率不均，在视觉上呈现出色不均现象。为解决传统监控方式形成原理，本文通过探究液晶量对Cell Gap的影响，Cell Gap变化的敏感区间，不同液晶量面板在高温条件下其Cell Gap随加热时间的变化趋势以及不同位置Cell Gap差异性，总结出通过变化趋势预警重力Mura的模型，为行业内预防重力 Mura 提供了一种全新思路。

　　随着 TFT-LCD（Thin film transistor liquid crystal display，薄膜晶体管液晶显示器）面板市场之间的竞争的日益激烈，用户对产品画质的要求也慢慢变得高，因此改善画面质量成为企业取得客户信任及用户认可的关键。其中 Mura 类不良为一种常见不良，且很难避免，成为业内需要攻克的难题。重力 Mura 为其中一种顽固不良，在常温下很难拦截，但是在加热或长时间通电条件下会在面板底部呈现出色不均现象，极度影响显示效果。

　　传统监控重力 Mura 方法大致分为三种：第一种方法是在产线生产的全部过程中，常温条件下抽测 Cell Gap 值，判断是不是满足设计规范；第二种方法是在产线生产的全部过程中，抽取少数 Glass 进行高温重力 Mura 测试；第三种方法是抽取少数的 TFT-LCD 面板，在实验室做高温重力 Mura 测试；但这几种方法都存在一定局限性，第一种方法受产线条件限制，只能在大板 Glass 上选取相应点位来测试，每个面板只能测到个别点，无法观测变化趋势，只有当测得 Cell Gap 值超出原有设计规范时才能发现，此时再评估出现重力 Mura 的风险性大小，没办法做到提前预警。第二种和第三种方法同样是在出现重力 Mura 时才可被发现，没办法做到提前预警，且由于重力 Mura 对比度低，边缘模糊等特点，人眼观察易造成漏检，不利于不良的识别与改善。

　　基于以上对重力 Mura 监控的局限性，本文创新性提出一种通过高温 Cell Gap 预警重力 Mura 的方法，此办法能够根据竖直放置的 TFT-LCD 面板其 Cell Gap 在高温条件下的变化趋势，判断出现重力 Mura 的可能性，并探索出针对重力 Mura 的预警模型，可做到提前预警重力 Mura。

　　根据重力 Mura 形成原理，当液晶量超过 LC Margin 时，在高温条件下液晶因重力作用下沉会在 Panel 底部形成色不均现象[6]，因此探究不同液晶量时 Cell Gap 的变化趋势对预防重力 Mura 具备极其重大指导意义。本文 选取液晶量分别为 0%、1.5%、3.0%、4.5%、6.0%（设定中心液晶量为 0%）TFT-LCD 面板探究了在 60℃条件下加热 120 min 后的 Cell Gap 变化趋势，测试结果如 图 2 所示。

　　根据重力 Mura 形成原理，当液晶量较少时，在高温加热条件下液晶不会下沉，此时 Cell Gap 较稳定；但当液晶量超过 LC Margin 上限时，液晶会因重力作用逐渐下沉，最终在 Panel 底部呈现出色不均现象。

　　根据第三部分的探讨，我们提出对量产阶段 TFTLCD 面板重力 Mura 监控的预警模型如下。

　　以上四种模型可相互佐证，共同判定 TFT-LCD 面板是不是真的存在重力 Mura 风险。采用上述预警模型，我们已对多款量产 TFT-LCD 面板来测试验证，证明其准确性，包含 ADS 和 TN 产品。

　　针对传统监控重力 Mura 方法只有当重力 Mura 出现或 Cell Gap 超出设计规范时才可被发现这一痛点，本文创新性提出通过 TFT-LCD 面板高温 Cell Gap 变化趋势预警重力 Mura 这一思路。通过探究液晶量和加热时间对 Cell Gap 的影响、Cell Gap 变化的敏感区间及不同位置 Cell Gap 的差异性，得出以下规律：

　　（3）液晶量接近中心值时，Cell Gap 随加热时间 延长无明显变化，但当液晶量接近 LC Margin 时，Cell Gap 随加热时间延长呈现出明显增大趋势；

　　（4）液晶量接近中心值时，同一面板不同位置 Cell Gap 无差异，但当液晶量接近 LC Margin 时，同一面板不同位置 Cell Gap 呈现出较大差异性。

　　通过以上规律，本文提出通过高温 Cell Gap 预警重力 Mura 的四种模型，并取多款量产 TFT-LCD 面板（包含 ADS 和 TN 产品）验证了预警模型的准确性，为业内预防重力 Mura 提供了一种新思路。